走査型電子顕微鏡

区分
設備
分類
分析機器類
メーカー
日本電子（株）
型式
JSM-6510LA
仕様及び性能
分解能：高真空モード　3.0nm（30kV）、8nm（3kV）、15nm（1kV）
　　　　低真空モード　4.0nm（30kV）
倍率：×5〜×300、000（画像サイズ128mm×96mm）
加速電圧：0.5〜30kV
用途
真空中で細く絞った電子線でサンプル表面を走査し、その時にサンプルから放出される信号を検出して、液晶モニタ上にサンプル表面の拡大像を表示させる装置です。本装置は本体にエネルギー分散型X線分析装置（EDS）を装着したシステムで、サンプル表面の観察および元素分析を行うことができます。
導入年
2014年 
画像
料金
5650円/時間
設置場所
会津若松技術支援センター
予約・連絡先
024-959-1738
備考
・当該設備は（公財）JKAの補助事業（機械工業振興補助事業）により導入されました。
・県外企業は料金が2倍となります。詳しくは担当職員までご確認ください。