機器紹介

走査型電子顕微鏡

分類
分析機器類
メーカー
日本電子(株）
型番
JSM-6510LA
用途
高解像度で観察する
主な仕様
分解能:3.0nm(加速電圧30kV、WD8mm、二次電子像)
倍率:×18～300,000
低真空モード
分解能:5.0nm(加速電圧30kV、WD5mm、反射電子像)
エネルギー分散型エックス線分析装置 型式JED-2200
使用料
5,650 円 / 1時間
設置場所
会津若松技術支援センター